DIN EN 120000-1996 总规范.光电子学半导体和液晶组件
时间:2024-05-18 21:53:58 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8771
【英文标准名称】:Genericspecification:Semiconductoroptoelectronicandliquidcrystaldevices;EnglishversionEN120000:1996
【原文标准名称】:总规范.光电子学半导体和液晶组件
【标准号】:DINEN120000-1996
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1996-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:详细规范;光电子器件;光电子学;质量评定;半导体;规范;组件;电子工程;总规范;液晶显示;液晶;半导体器件;计数检查;试验;质量;规范(验收);检验;测量;质量保证;电气工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L34
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:272P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:SeismicProvisionsforStructuralSteelBuildings
【原文标准名称】:结构钢建筑物用地震条款
【标准号】:ANSI/AISC341-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010-01-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:建筑物;地震防护;防地震;地震学;结构钢
【英文主题词】:Buildings;Earthquakeprotection;Protectionagainstvibrations;Seismology;Structuralsteels
【摘要】:Theseprovisionsgovernthedesign,fabricationanderectionofstructuralsteelmembersandconnectionsintheseismicforceresistingsystems,andsplicesandbasesofcolumnsingravityframingsystemsofbuildingsandotherstructureswithmomentframes,bracedframesandshearwalls.Thedesignforcesinthesestructuresshallresultfromearthquakemotionsdeterminedonthebasisofvariouslevelsofenergydissipationintheinelasticrangeofresponse.
【中国标准分类号】:P15
【国际标准分类号】:91_100_30;91_120_25
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Soilquality-Sampling-Part3:guidanceonsafety.
【原文标准名称】:土质.抽样.第3部分:安全性指南
【标准号】:NFX31-008-3-2002
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2002-03-01
【实施或试行日期】:2002-03-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:危害;工作场所安全;职业安全;一般条件;土壤组分;污染;检验;安全工程;安全;选择;土壤试验;抽样方法;说明书;土壤分析;土壤;取样;土壤普查;采样设备;安全要求
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Z50
【国际标准分类号】:13_080_05
【页数】:28P;A4
【正文语种】:其他